Provexa har investerat i ett nytt svepelektronmikroskop med högre upplösning och som också kan användas för kemisk analys, genom att röntgenstrålning kan detekteras och därigenom mäta koncentrationen av olika grundämnen med hög känslighet. Inbyggd plasmarengöring i vakuum gör att främmande ämnen elimineras. Med det nya mikroskopet kan både struktur och sammansättningen av ytor kartläggas på nanometernivå.
– Det ger oss ännu större möjligheter inom forskning & utveckling och felsökning, säger Christian Werdinius, R&D-chef på Provexa Technology.
Om det egna laboratoriets utrustning inte skulle räcka till samarbetar Provexa Ytbehandling med Chalmers Tekniska Högskola, forskningsinstitutet RISE och andra aktörer inom provning, forskning och utveckling. Tillsammans utgör det ett starkt nätverk som ger stora möjligheter.
